掃描電遷移率粒徑譜儀(SEMS)

美國Brechtel公司研制,實時粒徑分布測量系統和單分散顆粒發生器

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· 產品描述


產品名稱:掃描電遷移率粒徑譜儀(SEMS)

型號:2100

廠家:美國Brechtel公司

特性

    ?  可選粒徑范圍廣-最大直徑可達2μm

    ?  循環DMA鞘氣流,無需外置泵

    ?  CPC快速響應,DMA掃描時間短至秒級

    ?  采用層流元件精確測量樣氣流量

    ?  適用于機載及其他低壓環境

    ?  系統軟件簡潔,可顯示粒徑、面積以及體積等信息

    ?  全自動長期無人值守運行

    ?  干燥分級適用于低相對濕度環境運行

    ?  高壓設計消除電弧

    ?  具有反演功能的單分散顆粒選擇和掃描軟件

    ?  實時溫度,相對濕度以及氣壓監測

應用

      ?  連續監測環境粒徑分布

      ?  實驗室流管反應器研究

      ?  云凝結核研究

      ?  能見度降低研究

      ?  氣溶膠對健康的影響研究

      ?  長期氣候和空氣質量監測

      ?  高瞬態氣溶膠濃度的采樣條件研究

      ?  機載粒子垂直剖面分布


SEMS原理圖.jpg

 ▲圖:SEMS原理圖


SEMS表征粒子分布圖.jpg

                ▲圖:60個分級區間表征粒子分布,總掃描時間在6~60秒之間




 


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